AFM은 시료 표면을 확인할 수 있어 다양한 재료의 나노 표면구조, 극 미세구조, 표면 거칠기 분석등이 가능합니다.
제일 먼저 “상담•분석신청서”(홈피왼편)를 작성하여 polymer@polymer.co.kr 혹은 팩스(02-963-2587)로 보내주시면, 담당연구원으로부터 빠르고 정확한 답변을 받아보실 수 있습니다.

AFM분석 서비스 개요

AFM은 시료와 탐침(Cantilever)의 원자 사이에 작용하는 반데르발스 힘을 이용해 시료 표면의 거칠기와 그에 따른 이미지를 얻는 분석입니다. 플라스틱, 고무, 필름, 섬유, 정밀소재 및 포장재와 같은 다양한 재료의 나노 표면구조, 극 미세구조, 표면 거칠기 분석에 이용 됩니다. 또한 표면의 마찰력과 같은 물리 적 표면 특성 뿐만 아니라 bias를 인가하여 전기적인 표면 특성을 분석할 수 있습니다.

AFM Cantilever mode

탐침이 시료표면 정보를 읽는 방식은 크게 접촉, 비 접촉, 두드림(Tapping)으로 나뉩니다.

Contact mode	Non-contact mode	Tapping mode

AFM 분석예

Graphene의 edge 분석

Nano wire 분석

Nano wire 분석

표면거칠기의 간략설명

Ra(산술평균 거칠기)

지정구간 내에서, 기준(평균선)보다 높은 높이로부터 낮은 골짜기의 깊이(Yv1)를 채워줄 때 기준점으로부터 올라온 높이를 의미 합니다.

RMS (재곱평균제곱근 거칠기)

Rq는 Ra와 비슷한 의미를 갖는 파라미터인데 계산방법이 좀 다르다. Ra는 산술평균으로 일반적 평균방법을 써서 구했으나 Rq는 제곱평균제곱근(rms)의 방법을 써서 구한다. 그 두값은 거의 비슷하며 대부분의 가공방법에서 Rq가 Ra에 비해 10%정도 커진다고 알려져 있다.